ICI序列探头简介：
EUTTEST作为Langer EMV-Technik GMBH 公司的授权代理商，多年来一直为客户提供langer公司的 ICI 系列注入探头，用户可以用ICI探头将电磁故障干扰信号注入（EMFI）到加密电路和协议中。现在，ICI-DP 系列对此进行了扩展。除了更强的干扰效果外，新的电磁故障注入测试系统现在还可以快速连续产生两个干扰脉冲。
除了改进的干扰参数外，Langer EMV-Technik 现在还提供不同的探头尖端，以满足不同分辨率测试的需求，我们可提供 1000 μm、500 μm、250 μm 甚至 150 μm 几种不同的注入探头尖端直径。
测试介绍：
测试时，两个较大的探针尖端（500 μm 和 1000 μm）主要用于对封装电路的攻击，而两个小探针尖端（250 μm 和 150 μm）允许非常精确地将局部故障注入到开盖电路中。下图显示了一个边长为 4 mm 的芯片示例，以及使用不同分辨率的ICI-DP探头对直径4mm的芯片进行电磁故障注入，从下图可以看出，小探针尖端的空间分辨率显著提高。
使用不同分辨率的探头对直径4mm的芯片进行电磁故障注入测试
另外，我们还配置了一个BPS204故障注入猝发电站，BPS204的输出端直接连接到ICI序列探头即可开始测试，当然，您需要按上述描述选择不同分辨率的探头进行测试。测试布置图如下图所示：
BPS序列猝发电站和ICI探头配合使用
产品推荐：
在了解了如何使用 langer 公司的ICI序列探头进行脉冲注入后，我们可以选择以下套装，详情点击探头套装型号查看更多相关产品的技术参数信息。
双脉冲磁场源探头：
- ICI-DP HH150-15 set ，BPS204猝发电站+双脉冲磁场源探头（150 µm直径）
- ICI-DP HH250-15 set ，BPS204猝发电站+双脉冲磁场源探头（250 µm直径）
- ICI-DP HH500-15 set ，BPS204猝发电站+双脉冲磁场源探头（500 µm直径）
- ICI-DP HH1000-15 set ，BPS204猝发电站+双脉冲磁场源探头（1000 µm直径）
单脉冲磁场源探头：
- ICI HH500-15 L-EFT set ，BPS202猝发电站+脉冲磁场源探头（500 µm直径）
- ICI I900 L-EFT set ，BPS202猝发电站+脉冲电流源探头
- ICI E450 L-EFT set ，BPS202猝发电站+脉冲电场源探头
- ICI 03 L-EFT set，以上三个套装的组合套装
产品特点：
- BPS204可以输出高达 1000 V 的高压
- 磁场探头尖端直径低至 250 μm（250 μm、500 μm、1000 μm）
- 所有探头尖端均弹簧加载
- 双脉冲序列，可变延迟低至 25 ns
- 两个脉冲的高相似性
- 所有参数均可通过软件/ API控制，包括脉冲极性
- 脉冲上升时间约 2 ns
- 低触发到脉冲延迟（约 35 ns）
三种不同的测试探头封装：
相对于被测芯片的外壳尺寸（例如上图的4mm），我们提供了以下三种不同的测试探头封装.
封装01：
采用这种封装的探头尖端和探头的外壳很接近。
封装01的设计封装图
封装02：
封装02相对于封装01来说在横向和向下方面提供了更多的可操作空间。
封装02的设计封装图
封装03：
03 型吸头专为底部需要额外空间的用户而设计。可根据要求提供其他定制吸头类型。ICI 系列的所有探头类型也可订购。
封装03的设计封装图
