简介：
本文主要汇总全球IC集成电路电磁兼容测试标准清单和分类汇总，包括国际电工委员会的IEC 62132 抗扰度测试和IEC 61967 发射测试序列标准，还有中国出版的YD/T 1690序列电信标准，以及近期新出版的GB/T 42968 序列标准，本文将不定期更新，最近更新日期：2024年11月28日。
国际电工委员会IEC 出版的IC集成电路电磁兼容测试标准：
以下标准为2024年11月28日查询的在使用和正在实施的标准编号、年份和最新名称。
IEC 62132 序列集成电路抗扰度EMC测试标准清单：
- IEC 62132-1:2015 《集成电路.电磁抗扰度的测量.第1部分：一般条件和定义》
- IEC 62132-2:2010 《集成电路.电磁抗扰度的测量.第2部分：辐射抗扰度的测量. TEM小室和宽带TEM小室法》
- IEC 62132-4:2006 《集成电路. 150 kHz至1 GHz电磁抗扰度的测量.第4部分：直接射频功率注入法》
- IEC 62132-5:2005 《集成电路.150 kHz至1 GHz电磁抗扰度的测量.第5部分：法拉第法拉第笼法》
- IEC 62132-8:2012 《集成电路电磁抗扰度测量第8部分：辐射抗扰度测量IC带状线法》
- IEC TS 62132-9:2014 《集成电路.电磁抗扰度的测量.第9部分：辐射抗扰度的测量.表面扫描法》
IEC 61967 序列集成电路发射EMC测试标准清单：
- IEC 61967-1:2018 RLV 《集成电路 – 电磁辐射测量 – 第 1 部分： 一般条件和定义》
- 稳定版本：IEC 61967-1:2018
- IEC TR 61967-1-1:2015 《集成电路 – 电磁辐射测量 – 第 1-1 部分：一般条件和定义 – 近场扫描数据交换格式》
- IEC 61967-2:2005 《集成电路 – 电磁辐射测量，150 kHz 至 1 GHz – 第 2 部分：辐射发射测量 – TEM cell 和宽带 TEM cell 方法》
- IEC TS 61967-3:2014 《集成电路 – 电磁发射的测量 – 第 3 部分：辐射发射的测量 – 表面扫描法》
- IEC 61967-4:2021 RLV 《集成电路 – 电磁发射测量 – 第 4 部分：传导发射测量 – 1 欧姆/150 欧姆直接耦合法》
- 稳定版本：IEC 61967-4:2021
- IEC 61967-6:2002+AMD1:2008 CSV 《集成电路 – 电磁辐射测量，150 kHz 至 1 GHz – 第 6 部分：传导发射测量 – 磁探针法》
- 稳定版本：IEC 61967-6:2002/AMD1:2008
- IEC 61967-8:2023 RLV 《集成电路 – 电磁辐射测量 – 第 8 部分：辐射发射测量 – IC 带状线法》
- 稳定版本：IEC 61967-8:2023
IEC 62433 序列集成电路电磁兼容建模标准清单：
- IEC 62433-1:2019 《EMC IC 建模 – 第 1 部分：通用建模框架》
- IEC 62433-2:2017 《EMC IC 建模 – 第 2 部分：用于 EMI 行为仿真的集成电路模型 – 传导发射建模 (ICEM-CE) 》
- IEC TR 62433-2-1:2010 《EMC IC 建模 – 第 2-1 部分：传导发射黑盒建模理论》
- IEC 62433-3:2017 《EMC IC 建模 – 第 3 部分：用于 EMI 行为仿真的集成电路模型 – 辐射发射建模 (ICEM-RE) 》
- IEC 62433-4:2016 《EMC IC 建模 – 第 4 部分：用于射频抗扰度行为仿真的集成电路模型 – 传导抗扰度建模 (ICIM-CI) 》
- IEC 62433-6:2020 《EMC IC 建模 – 第 6 部分：用于脉冲抗扰度行为仿真的集成电路模型 – 传导脉冲抗扰度建模 (ICIM-CPI) 》
IEC 62228 序列集成电路-收发器IC的EMC评估标准清单：
- IEC 62228-1:2018 《集成电路 – 收发器的 EMC 评估 – 第 1 部分：一般条件和定义》
- IEC 62228-2:2016 《集成电路 – 收发器的 EMC 评估 – 第 2 部分：LIN 收发器》
- IEC 62228-3:2019 《集成电路 – 收发器的 EMC 评估 – 第 3 部分：CAN 收发器》
- IEC 62228-5:2021 《集成电路 – 收发器的 EMC 评估 – 第 5 部分：以太网收发器》
- IEC 62228-6:2022 《集成电路 – 收发器的 EMC 评估 – 第 6 部分：PSI5 收发器》
- IEC 62228-7:2022 《集成电路 – 收发器的 EMC 评估 – 第 7 部分：CXPI 收发器》
中国通信行业标准 YD/T 1690序列IC集成电路电磁兼容测试标准清单：
- YDT 1690.1-2007 《电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz-1GHz）第1部分-通用条件和定义》
- YDT 1690.2-2007 《电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz-1GHz）第2部分-辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室方法》
- YDT 1690.3-2007 《电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz-1GHz）第3部分-辐射发射测量 外表扫描方法》
- YDT 1690.4-2007 《电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz-1GHz）第4部分-传导发射测量 1Ω-150Ω直接耦合方法》
- YDT 1690.5-2007 《电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz-1GHz）第5部分-传导发射测量 法拉第笼方法》
- YDT 1690.6-2007 《电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz-1GHz）第6部分-传导发射测量 磁场探头方法》
中国国家标准-IC集成电路电磁兼容测试标准清单：
- GB/T 42968.1-2023 《集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义》
- GB/T 42968.2-2024 《集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法》
- GB/T 42968.8-2023 《集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法》
- GB/T 43034.2-2024 《集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分: 同步瞬态注入法》
- GB/T 43034.3-2023 《集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法》
- GB/T 44807.1-2024 《标准发布和实施 集成电路电磁兼容建模 第1部分：通用建模框架》
以下为还没有发布的IC emc 相关国家标准清单：
- 20214711-T-339 《集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法》20221350-T-339 《集成电路 电磁发射测量 第1部分: 通用条件和定义》
- 20214060-T-339 《集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法》
- 20214061-T-339 《集成电路 电磁抗扰度测量 第5部分：工作台法拉第笼法》
- 20230227-Z-469 《电磁兼容 试验和测量技术 第1部分：抗扰度试验总论》
- 20204839-T-339 《集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分：射频功率直接注入法》
- 20213160-T-339 集成电路电磁兼容建模 第2部分：集成电路电磁干扰特性仿真模型 传导发射建模（ICEM-CE）
- 20213161-T-339 集成电路电磁兼容建模 第3部分：集成电路电磁干扰特性仿真模型 辐射发射建模（ICEM-RE）
- 20242335-T-339 集成电路电磁兼容建模 第4部分：集成电路射频抗扰度特性仿真模型 传导抗扰度建模 (ICIM-CI)
- 20242740-T-339 集成电路电磁兼容建模 第6部分：集成电路脉冲抗扰度特性仿真模型 传导脉冲抗扰度建模（ICIM-CPI）
总结：
以上就是EUTTEST 在20124年11月统计的国际电工委员会和我们国家的IC集成电路电磁兼容测试标准清单，如需标准全文请联系相关标准委员会购买，支持正版！‘
我司只销售符合以上标准的IC EMC 测试系统和设备。
扩展阅读：