简介:
IC集成电路 的用户能够根据其 EMC 参数比较各种类型的 IC,并规定了IC集成电路的EMC测试项目方法和测试设备,这一点很重要。这使得可以选择最佳 IC,并且意味着布局设计和器件可以与 IC 的 EMC 参数保持一致。
对于 IC 制造商而言,其产品的良好 EMC 特性意味着优于竞争对手。因此,IC研发人员应充分了解IC集成电路的EMC测试项目和测试设备,目标是确定那些对 EMC 抗扰度和辐射起决定性作用的参数,并允许工程师为芯片设计得出结论。
IC集成电路的EMC测试项目:
IC EMC测试项目:

IC集成电路 EMC 测试项目汇总
您可以直接在EUTTEST网站搜索产品栏中输入以上型号(例如 P603)查询具体产品的技术参数和测试方法。
如上图所示,IC EMC集成电路电磁兼容测试系统 根据不同的EMC测试标准分为了四种不同的测试项目:
- IC EMI 辐射发射-通过导线传导
- IC EMI 辐射发射-通过空间耦合
- IC EMS 敏感度测试-通过导线传导
- IC EMS 敏感度测试-通过空间和耦合(射频和静电放电)
上图已经直观的显示四种不同 IC EMC 测试项目的耦合方式,IC 研发人员只需要从这四个方面着手准备 EMC 测试项目立项或在已经有IC emc测试系统的情况下进行EMC 整改。
其他相关测试项目:
- 现在,参考人体模型,电子元件(IC、晶体管)的 ESD 强度在规格中引用 1 到几 kV 的值是很常见的。对于人体模型 (HBM),电容器 (100 pF) 以测试电压充电,并通过 1500 欧姆在被测设备上放电。HBM 在标准 MIL-STD-883G 和 IEC 801-2 中进行了描述。机器模型 (MM) 是根据相同原理工作的进一步测试模型。
- 这两种模型仅用于验证在生产、包装、运输和组装过程中处理组件时 IC 的抗破坏性。在 MM 或 HBM 测试期间,测试对象永远不会连接到电压,即它不运行。
- 根据人体模型指定的 ESD 强度与操作期间的 ESD 行为无关。事实上,为人体模型设计的保护机制(不考虑操作过程中的故障)甚至可能导致IC在功能干扰测试期间出现故障或失效。
- 目前正在开展有关 IC 的 EMC 标准、测试方法和限值的工作。
- 设备(资源和设备)的 EMC 要求已在标准、测试方法和限值中定义。这些器件经过 ESD 和突发测试(IEC 标准 61000-4-2/61000-4-4),测试电压在 kV 范围内。
- 设备中使用的 IC 和其他半导体最终是干扰发射和缺乏抗扰度的原因。
- IC 发出的干扰可以在其接口处进行测量,并在这些测量的基础上进行评估和定义。
- IC 具有较低的抗干扰性,其抗扰度水平在伏特范围内。
- 标准测试期间在器件外部引入的脉冲电压在到达 IC 的过程中会衰减。器件外部的几 kV 电压在 IC 引脚处降低到大约 1 … 100 V 的电压。这些电压可能会超过 IC 的抗扰度水平。这意味着与器件测试相比,IC 的测试电压必须在 1 到几百伏的范围内,而不是在 kV 范围内。只有少数例外(特殊设备)才需要更高的测试电压。
IC集成电路的EMC测试设备:
在了解完集成电路需要做哪些EMC测试项目后,我们在来根据测试项目选择合适的IC EMC 测试系统。
测试集成电路IC 的EMC 问题,您需要不同的探头组(图 3)来确定各种 EMC 参数,用户可以根据使用领域(包括 RF、EFT、ESD、DPI、发射 1 ohm 方法……)选择以下探头组。
另外EUTTEST 提供的集成电路电磁兼容测试系统符合最新的IEC标准和国家标准要求,了解更多关于 IC EMC 测试标准清单 。
- 脉冲磁场注入探头 ICI HH500-15L-EFT ;
- 脉冲电场注入探头 ICI E450 L-EFT set ;
- 双脉冲注入探头 ICI-DP HH500-15 ;
- 高频电流探头 S750 S603 P622 P603-1;
- 辐射发射电场测试探头 P1702 ;
- 辐射发射磁场测试探头 P1602 ;
- EMC 测试软件 CS-ESA set 和 ChipScan-ESA ;
- 以上探头的自动测试和位移系统 ICS 105 , FLS 106 IC set ;
- ICE1 IC 测试环境
了解更多关于: langer IC EMC 测试设备清单
ICE1 IC 测试环境需要作为探针组的最佳测试环境:
- 用于测试 IC 的测试板,提供测试 IC 和测试系统之间的统一接口
- 用于触发测试IC的 CB 0708 连接板
- 提供统一参考电位的 GND25 接地层
- 此外,根据探头组和相应的工作,可能需要外部设备:
- 干扰发生器(例如 EFT/burst)
- 示波器
- 频谱分析仪
- 个人电脑
- 功率放大器
被测 IC 位于测试装置中的测试板上。过滤连接将测试板连接到位于其下方的 CB 0708 连接板,该连接板将测试 IC 连接到 PC。可以使用随附的软件控制和监视 IC。连接板集成在接地平面中,形成用于测试的固定接地参考系统。探头组中的探头放置在接地平面上,用于通过导电或电容/电感耦合将干扰注入测试 IC 或测量其发射。根据各自的类型,探头组通过外部干扰发生器(RF、EFT/突发)、频谱分析仪或 Langer-EMV 的突发电站 (BPS) 供电和控制。
突发发电站作为附件包含在某些探头组中。探头的脉冲电压、脉冲频率和极性可以通过随附的 BPS-Client 控制软件进行修改。