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集成电路测试仪器

集成电路测试仪器和其他EMC仪器一样，也分为干扰和抗干扰两部分仪器。另外对于集成电路IC还有新兴的测试方式是IC安全测试设备、IC边缘信道分析设备这两个方面，详情点击下方产品分类或产品链接了解更多信息。

集成电路测试仪器

当前仪器分类包含以下子分类：

当前仪器分类包含以下仪器设备：

P603 Langer 1Ω高频电流探头 符合IEC 61947-4 
P603 Langer 1Ω高频电流探头 符合IEC 61947-4 

P603 是由德国langer-emv生产并由EUTTEST代理销售的1Ω高频电流探头,可用频率为：9kHz-3GHz， P603 符合IEC 61947-4进...

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P602 Langer 0.1Ω高频电流探头 符合IEC 61947-4 
P602 Langer 0.1Ω高频电流探头 符合IEC 61947-4 

P602 是由德国 langer-emv 生产并由EUTTEST代理销售的0.1Ω高频电流探头, P602 是0.1Ω探头，用于直接测量集成电路引脚上的高频电流...

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EPM02 Langer-EMV 电场探头选件
EPM02 Langer-EMV 电场探头选件

EPM02 是德国 Langer EMV 公司生产并由EUTTTEST代理销售的IC集成电路电场探头，EMP02是一个选件，可以配合P1601，P1602，P1...

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CS-ESA set 和 ChipScan-ESA 集成电路IC测试系统 软件
CS-ESA set 和 ChipScan-ESA 集成电路IC测试系统 软件

CS-ESA set 是一个用于IC集成电路EMI测试的安装于电脑的软件包，安装完成后的软件名为： ChipScan-ESA ，集成电路IC扫描软件 ChipS...

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BPM02 Langer EMV 磁场探头选件
BPM02 Langer EMV 磁场探头选件

BPM02 是德国langer-emv生产并由EUTTTEST代理销售的IC集成电路磁场探头，BMP02是一个选件，可以配合P1601，P1602，P1702使...

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FLS 106 IC set 集成电路用的4轴位移扫描定位测试系统
FLS 106 IC set 集成电路用的4轴位移扫描定位测试系统

FLS 106 IC set 是由德国langer公司生产的一个4轴位移扫描定位测试系统，由深圳EUTTEST代理销售。FLS 106 IC set 系统包含一...

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ICS 105 set 四轴IC集成芯片 近场辐射扫描仪
ICS 105 set 四轴IC集成芯片 近场辐射扫描仪

ICS 105 set 是由德国 Langer – EMV 生产并由深圳EUTTEST代理销售的集成电路扫描仪测试系统，系统内包含的 ICS 105 可以对小型...

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Langer ICR微型近场探头 用于集成电路芯片的边信道攻击测试
Langer ICR微型近场探头 用于集成电路芯片的边信道攻击测试

Langer ICR 微型近场探头 序列是由德国langer 公司生产的一套用于集成电路芯片边信道攻击分析的微型近场探头套装，由深圳EUTTEST代理销售。IC...

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