集成电路-安全测试设备

集成电路芯片的安全测试设备主要是使用各种测试探头将快速瞬态磁场或电场以及电流脉冲注入 IC,并观察芯片是否出现异常。

常见的测试方式还有对芯片进行边缘信道分析,也可以使用此分类的测试仪器进行测试。

当前仪器分类包含以下仪器设备:

ICS 105 set 四轴IC集成芯片 近场辐射扫描仪
ICS 105 set 四轴IC集成芯片 近场辐射扫描仪

ICS 105 set 是由德国 Langer – EMV 生产并由深圳EUTTEST代理销售的集成电路扫描仪测试系统,系统内包含的 ICS 105 可以对小型...

Langer ICR微型近场探头 用于集成电路芯片的边信道攻击测试
Langer ICR微型近场探头 用于集成电路芯片的边信道攻击测试

Langer ICR 微型近场探头 序列是由德国langer 公司生产的一套用于集成电路芯片边信道攻击分析的微型近场探头套装,由深圳EUTTEST代理销售。IC...