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集成电路-EMC测试仪器

集成电路的EMC测试仪器主要用于测试集成电路或芯片上的辐射发射，也可以通过芯片引脚或空间注入射频干扰、脉冲电压等干扰，以确认芯片是否还能正常工作。和电子产品测试EMC一样，芯片的EMC测试分为很多种类，详情点击下方产品了解详细信息。

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当前仪器分类包含以下仪器设备：

P603 Langer 1Ω高频电流探头 符合IEC 61947-4 
P603 Langer 1Ω高频电流探头 符合IEC 61947-4 

P603 是由德国langer-emv生产并由EUTTEST代理销售的1Ω高频电流探头,可用频率为：9kHz-3GHz， P603 符合IEC 61947-4进...

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P602 Langer 0.1Ω高频电流探头 符合IEC 61947-4 
P602 Langer 0.1Ω高频电流探头 符合IEC 61947-4 

P602 是由德国 langer-emv 生产并由EUTTEST代理销售的0.1Ω高频电流探头, P602 是0.1Ω探头，用于直接测量集成电路引脚上的高频电流...

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EPM02 Langer-EMV 电场探头选件
EPM02 Langer-EMV 电场探头选件

EPM02 是德国 Langer EMV 公司生产并由EUTTTEST代理销售的IC集成电路电场探头，EMP02是一个选件，可以配合P1601，P1602，P1...

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CS-ESA set 和 ChipScan-ESA 集成电路IC测试系统 软件
CS-ESA set 和 ChipScan-ESA 集成电路IC测试系统 软件

CS-ESA set 是一个用于IC集成电路EMI测试的安装于电脑的软件包，安装完成后的软件名为： ChipScan-ESA ，集成电路IC扫描软件 ChipS...

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BPM02 Langer EMV 磁场探头选件
BPM02 Langer EMV 磁场探头选件

BPM02 是德国langer-emv生产并由EUTTTEST代理销售的IC集成电路磁场探头，BMP02是一个选件，可以配合P1601，P1602，P1702使...

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FLS 106 IC set 集成电路用的4轴位移扫描定位测试系统
FLS 106 IC set 集成电路用的4轴位移扫描定位测试系统

FLS 106 IC set 是由德国langer公司生产的一个4轴位移扫描定位测试系统，由深圳EUTTEST代理销售。FLS 106 IC set 系统包含一...

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