集成电路的EMC测试仪器主要用于测试集成电路或芯片上的辐射发射，也可以通过芯片引脚或空间注入射频干扰、脉冲电压等干扰，以确认芯片是否还能正常工作。和电子产品测试EMC一样，芯片的EMC测试分为很多种类，详情点击下方产品了解详细信息。
S750 是由德国langer-emv生产并由EUTTEST代理销售的150Ω高频电流探头,可用频率为：DC-3GHz， S750 符合IEC 61947-4进...
S603 是由德国 Langer EMV 生产并由EUTTEST代理销售的1Ω高频电流探头,可用频率为：DC-3GHz， S603 符合IEC 61947-4进...
P1702 是由德国langer-emv生产并由EUTTEST代理销售的IC集成电路电场探头，频率范围可达3GHz，金属的外壳能和GND25连接板吻合并隔离外部...
P1602 是由德国langer-emv生产并由EUTTEST代理销售的专用于IC集成电路的磁场测试探头，频率范围可达3GHz，金属的外壳能和GND25连接板吻...
P1601 是由德国langer-emv生产并由EUTTEST代理销售的专用于IC集成电路的磁场测试探头，频率范围可达1GHz，金属的外壳能和GND25连接板吻...
P750 是由德国langer-emv生产并由EUTTEST代理销售的150Ω高频电流探头,可用频率为：150kHz-3GHz， P750 符合IEC 6194...
P622 是由德国langer-emv生产并由EUTTEST代理销售的0.1Ω高频电流探头, P622 是有源的0.1Ω探头。 所以测试时需要从探头后端提供电源...
P603-1 是由德国 Langer-EMV 生产并由EUTTEST代理销售的1Ω高频电流探头,可用频率为：0.2kHz-3GHz， P603-1 符合IEC ...
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