集成电路的EMC测试仪器主要用于测试集成电路或芯片上的辐射发射，也可以通过芯片引脚或空间注入射频干扰、脉冲电压等干扰，以确认芯片是否还能正常工作。和电子产品测试EMC一样，芯片的EMC测试分为很多种类，详情点击下方产品了解详细信息。
ICI E450 L-EFT set 是德国langer公司开发的一套脉冲电场注入测试系统，由深圳EUTTEST代理销售和售后服务。该系统包含一个型号为 ICI...
ICI E450 L-EFT 是由德国langer公司生产的一个电场注入探头，450μm的探头尺寸可以让工程师将快速瞬态脉冲注入或耦合到被测IC表面或引脚上，这...
ICI I900 L-EFT 是由 Langer EMV 公司生产的一个脉冲信号注入探头，一般用于偏置注入或耦合到被测IC芯片，探头尖端采用弹簧设计，便于测试工...
ICI I900 L-EFT set 是由德国 Langer – EMV 公司生产的一套脉冲抖动干扰测试系统，专用于注入干扰到集成电路芯片的引脚或表面，系统主要...
ICI HH500-15L-EFT set 是由德国 langer emv 公司生产的一个脉冲磁场故障注入实验套装，专用于集成电路芯片的注入干扰测试。套装内部包...
ICI HH500-15L-EFT 是来自德国 Langer 公司的一个脉冲磁场注入探头，它是ICI HH500-15L-EFT set 套装里的一个附件。IC...
ICI-DP HH500-15 是由德国 Langer-EMV 公司生产的一种集成电路双脉冲故障注入磁场探头，探头尖端直径为500μm，双脉冲磁场源 ICI-D...
ICI-DP HH1000-15 是一种集成电路双脉冲故障注入磁场探头，由德国 Langer 公司生产并由EUTTEST代理销售和售后服务。 ICI-DP HH...
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