简介：
SX1 set 是由德国langer-emv公司生产并由EUTTEST代理销售的近场探头组， SX1 set 包含2个无源近场探头，用于在研发阶段以高时钟频率测量电子模块上的电场和磁场，频率范围为1GHz到10GHz（SX-R 20-1 set磁场探头（1GHz-20GHz））。 SX1 set 探头组的探头可以紧贴电子模块进行测量，比如贴近单个集成电路引脚、导线、元件及其连接点，从而定位干扰信号源。通过相应地操作近场探头，能够测量出电子模块上电磁场的方向及其分布。这种近场探头小巧轻便，并具备外皮电流衰减和电屏蔽。 这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。探头内部有一个终端电阻。
6GHz近场探头：XF1 set LANGER-EMV 无源近场探头 30MHz-6GHz
6GHz高分辨率：XF1 set Langer-EMV 高分辨率近场探头 1MHz-6GHz
40GHz近场探头已推出，请查看链接产品：HR-E 40-1 set langer-emv 磁场近场探头40GHz
SX1 set 装箱清单:
以下探头可以任意搭配选购，Ø 是可测试的大概分辨率：
SX序列近场探头包含多个探头:
SX1 set 主要技术参数：
频率范围：1GHz -10GHz(20GHz)
接口：SMB, male, jack
SX1 set
- 1GHz-10GHz
- 1x SX-E 03, 电场探头（1GHz-10GHz）
- 1x SX-B 3-1
- 1x SX-R 3-1, 磁场探头（1GHz-10GHz）
- 1x SMA-SMA 1 m, SMA-SMA 测量电缆
- 1x Case 4
SX-R 20-1 set
- 1GHz-20GHz
- 1x SX-R 20-1, 磁场探头（1GHz-20GHz） SMA
- 1x SMA-SMA 1 m, SMA-SMA 测量电缆
- 1x Case 4
所含探头的技术参数
<<<<提醒：左右滑动表格>>>> SX-R 3-1 | SX-R 3-1, 磁场探头（1GHz-10GHz） Ø ≈ 3 mm；分辨率=1mm |
 SX-R 20-1 | SX-R 20-1磁场探头（1GHz-20GHz） SMA Ø ≈ 6*6 mm |
 SX-B 3-1 | SX-B 3-1, 磁场探头（1GHz-10GHz） Ø ≈ 4 mm；分辨率=1mm |
 SX-E 03 | SX-E 03, 电场探头（1GHz-10GHz） Ø ≈ 4*4 mm |
SX1 set 近场探头测试方法如下图：
近场探头需要配合频谱仪或接收机使用
SX1 set 近场探头测试方法
每个探头的频率特性曲线和插入损耗可以联系EUTTEST咨询。
使用低分辨率的探头找到大概的干扰位置，然后再用高分辨率的探头找到具体元件位置。
