简介：
S2 set 是德国langer-emv生产并由EUTTEST代理销售的脉冲磁场监视探头，设计用于电快速瞬变脉冲群和静电放电测试后不通过的产品整改。
S2 set 有三个不同分辨率的探针配合 E1抗干扰开发系统 或外部EFT脉冲群发生器使用。 S2 set 的输出将连接到 E1 光纤端口中显示。
抗于扰测试原理：
对于抗于扰问题（Burst/ESD），由于极端的测量条件，无法测量脉冲电流和脉冲磁场场以帮助识别故障。 这是因为在Burst或ESD干扰注入时，测量时必须具有 100kV/m 的场强和几纳秒的脉冲上升时间。正常的测量技术，如具有50欧姆测量引线的示波器，并不适合于此。配置的所有探头通过光纤进行高频和电位隔离的先决条件对于 极小且无电引线的防干扰性探头是必需的。 在 S2 set 探头集中的磁场探头中，快速瞬态脉冲磁场和脉冲电流在电子设备和电子模块上具有极强的扰动影响。使用的目的是澄清突发或ESD事件引起的干扰免疫现象。从模块或设备测量的脉冲电流和脉冲磁场的分布中可以确定有针对性的纠正措施。
S2 set 的装箱清单：
- 1x MSA 02, 磁场探头（有源）
- 1x 05K black, 用于测量系统分析第二阶段（MSA 02）的探头 ，（与MSA 02、SGZ21配合使用）
- 1x 05R white, 用于测量系统分析第二阶段（MSA 02）的探头， （与MSA 02、SGZ21配合使用）
- 1x 05U orange, 用于测量系统分析第二阶段（MSA 02）的探头 ，（与MSA 02、SGZ21配合使用）
- 1x MS 101, 磁场探头 用于测量系统分析第一阶段（与E1 SGZ21配合使用）
- 1x MS 102U, 磁场探头 用于测量系统分析第一阶段（与E1 SGZ21配合使用）
- 1x S2 case, System case
- 1x S2 m, S2系列 操作指南
S2 set 实际测试图
S2 set 和 E1 配合使用的测试图
S2 set 和E1中的SGZ21及EFT脉冲群发生器配合使用图解
另外 S2 set 配置的三个探头都具有高分辨率，可以直接测试某个芯片引脚，某个元件引脚，如果能测试到数据，说明干扰肯定来自于此引脚位置，因为它的高分辨率决定了不会接收周围元件的干扰。
05R white的高分辨率测试图