ICI-DP HH250-15 集成电路双脉冲故障注入磁场探头 250μm探头直径

ICI-DP HH250-15
制造商品牌:Langer
仪器设备名称:集成电路-安全测试设备

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简介:

ICI-DP HH250-15 是由德国langer公司生产的一种集成电路双脉冲故障注入磁场探头,探头尖端直径为250μm,双脉冲磁场源 ICI-DP HH 250-15 可将快速瞬态磁场脉冲注入DUT(例如IC集成电路),它专为IC安全应用中的EM故障注入(EMFI)而设计。使用该探头,可以将单脉冲以及脉冲跟随时间最小为25 ns的双脉冲序列以精确的定时和位置注入集成电路。

通过“同步”输入,单脉冲或双脉冲可以同步方式注入DUT的功能序列。探头通过脉冲发生器BPS 204供电和控制。

技术参数:

探头型号 ICI-DP HH250-15
用途 集成电路故障注入磁场脉冲
生产厂家 Langer emv
代理商 Euttest
探头尖端直径 250μm
脉冲注入最大电压 1000V
上升时间 2ns
最大电流 16A
脉冲宽度 10ns
最小脉冲序列时间 25ns
重复频率 0.1 Hz – 15 kHz(单脉冲,<500 V)

0.1 Hz – 7.5 kHz(双脉冲,<500 V)

极性 双极性
最小触发脉冲延迟 35ns
附件触发脉冲延迟 由BPS 204脉冲发生器控制
探头供电 由 BPS 204供电
质量 190g
尺寸 26 mm x 54 mm x 71 mm
ICI-DP HH250-15 的双脉冲测试图

ICI-DP HH250-15 的双脉冲测试图

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