EM601-6 的原理：
EM601-6 是由美国 ESDEMC 生产并授权由EUTTEST代理销售的TEM-cell横电磁波小室，可以用于IC集成电路标准 IEC61967-2 及 IEC62132-8 的TEM测试法和带状线测试法， EM601-6 可以测试使用高达6GHz，辐射场强可达80 V/m @ 1V (静态场最大 240 kv/m， 瞬态场最大400 kv/m)。
TEM-cell 是什么？
“ TEM”代表“横向电磁（模式）”。电磁辐射的横向模式是在垂直于（即横向于）辐射传播方向的平面内辐射的特定场模式。TEM单元是在每一端逐渐变细以形成几何形状的矩形同轴传输线，该几何形状专门设计用于在给定的频率范围（通常为DC至几百MHz）上创建TEM模式。
TEM单元的有用频率范围由其几何形状决定，但通常遵循以下规则：TEM越大，可用的上限频率范围越低。在某个截止频率之上，会创建更高阶的模式（如下所示），这会使所有测试量在整个测试体积中都不稳定。也许解释TEM的最简单方法是通过它的作用：TEM可以让您测量产品的辐射场强，并使产品经受给定的场强。了解TEM更多资料，联系EUTTEST获取。
更多关于 TEM-cell 的介绍请参考下面文章介绍：
EM601-6 可满足标准：
- IC的电磁抗扰度测试
- IC的电磁辐射测试
- IC的ESD场敏感度测试
- IEC 61967-2：2005集成电路 – 150 kHz至1 GHz的电磁辐射测量 – 第2部分：辐射发射的测量 – TEM单元和宽带TEM单元法
- IEC 61967-8：2011集成电路 – 150 kHz至3 GHz的电磁辐射测量 – 第8部分：辐射发射的测量 – IC带状线方法
- IEC 62132-8：2012集成电路 – 电磁抗扰度测量，150 kHz至3 GHz – 第8部分：辐射抗扰度测量 – IC带状线方法
- SAE 1752-3集成电路辐射发射的测量 – TEM /宽带TEM（GTEM）单元法; TEM Cell（150 kHz至1 GHz），宽带TEM单元（150 kHz至8 GHz）
EM601-6 技术参数：
| 频率范围 | DC – 6 GHz (高次模的第一个峰值频率 > 6 GHz) |
| 产品原理 | TEM-cell横电磁波小室 |
| TEM Cell阻抗 | 50Ω ± 5% |
| VSWR | DC- 3 GHz <1.1 3 – 5.5 GHz <1.5 5.5 – 6 GHz <1.9 |
| 插入损耗（S21） | DC- 3 GHz <1 dB 3 – 6 GHz <1.5 dB |
| 回损（S11＆S22） | DC- 3 GHz >25 dB 3 – 5.5 GHz >14 dB 5.5 – 6 GHz >10 dB |
| 有效的小室高度 | 12.5 mm |
| 小室中心电场强度 | 80 V/m @ 1V (静态场最大 240 kv/m， 瞬态场最大400 kv/m) 10 V/m 电场的输入功率仅需 0.3125 mW, 1000 V/m电场的输入功率仅需3.125 W。 该值是基于隔板-小室壁的高度为12.5 mm的前提计算而得。 |
| 小室中心磁场强度 | = 电场强度 /377 (A/m) |
| 代理商 | Euttest |
| RF连接器 | N型 |
| 最大输入功率 | 500瓦 |
| 最大输入电压 | 3 kV @DC, 5kV @Pulse |
| DUT端口尺寸 | 50 (W) x 50 (D) mm |
| 推荐的最大DUT尺寸 | 30 (W) x 30(W) x 3(H) mm |
| TEM小室尺寸 | 170 (W) x 120 (D) x 70 (H) mm; 6.5 (W) x 4.5 (D) x 1 in. |
| 重量 | 约 1 kg; 2 lbs. |
EM601-6 的运用范围：
ESDEMC 的 EM601-6 是一个DC-6GHz的横电磁波TEM小室，在输入端输入射频信号后在小室腔体内可产生一个均匀、可控的电磁场，进行eut被测模块或IC的抗扰度测试。IC或其他模块安装在测试夹具上放入小室，也可以使用EMI接收机测试IC或模块的RE特性。 EM601-6 的工作原理与TEM Cell相同。测试腔体内的E/H场与输入电压成比例，与小室的高度成反比。由于该设备工作频段宽，因此可应用在EMI，EMS，接收机灵敏度测试等很多领域。